メモリ・テスト・システムによる、磁気ランダム・アクセス・メモリ（STT-MRAM）のスイッチング電流測定技術を確立 東北大学 CIESとの共同研究、STT-MRAMの不良解析と実用化に大きく前進 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 代表取締役 兼 執行役員 ...

株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:吉田 芳明)は、メモリ・テスト・システム「T5800シリーズ」の新製品「T5822」を発売しました。モバイル機器に広く使用されているDRAM、NANDフラッシュなどの不揮発性メモリのウエハ試験に最適です。

GRLは、FuturePlus社との提携により、世界7ヶ所のラボで提供しているDDRおよびLPDDRメモリのテストサービスの範囲を拡大しました。 デジタルインターフェースのためエンジニアリングサービスとテスト自動化ソリューションの世界的リーダーであるGranite River ...